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XAFSの基礎と応用 利用可

日本XAFS研究会／編 -- 講談社 -- 2017.7 -- 433.57

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所蔵館 場所 棚番号 請求記号 資料コード 貸出利用 状態
本館 ４階自然 Map 13 /433.57/ｻﾌ/1140250 1111402500 閲可 貸可 協可 －

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タイトル XAFSの基礎と応用
著者 日本XAFS研究会 ／編  
出版地 東京
出版者 講談社
出版年 2017.7
ページ数 10,341p
大きさ 21cm
一般件名 エックス線分光分析
内容紹介 物質を構成する特定元素のまわりの局所的な構造を調べる有効な手法として幅広く用いられるX線吸収微細構造(XAFS)分光法。XAFSの理論から、一般的な解析法、実験の基盤技術や応用展開技術、関連手法までを解説する。
ISBN13桁 978-4-06-153295-3 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
分類番号 433.57

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