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事例とツールで学ぶHAYST法 利用可

秋山 浩一／著 -- 日科技連出版社 -- 2014.7 -- 007.63

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所蔵館 場所 棚番号 請求記号 資料コード 貸出利用 状態
本館 ４階PC Map 50 Pﾊ/007.63/ｱｷ/1089160 1110891606 閲可 貸可 協可 －

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タイトル 事例とツールで学ぶHAYST法
副書名 ソフトウェアテストの考え方と上達のポイント
著者 秋山 浩一 ／著  
出版地 東京
出版者 日科技連出版社
出版年 2014.7
ページ数 9,197p
大きさ 21cm
一般件名 ソフトウェア工学
内容紹介 ソフトウェアテストや品質を改善するために必要となる基本的な原理・原則、HAYST法によるソフトウェアテストの考え方やつくり方を平易に解説。テスト結果の分析事例やテストの自動化についても言及する。
ISBN13桁 978-4-8171-9520-3 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
分類番号 007.63

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