愛知県図書館
トップメニュー
資料検索
資料紹介
Myライブラリ
トップメニュー
>
本サイトにはJavaScriptの利用を前提とした機能がございます。
お客様の環境では一部の機能がご利用いただけない可能性がございますので、ご了承ください。
資料詳細
詳細蔵書検索
ジャンル検索
1 件中、 1 件目
はじめてのデバイス評価技術
利用可
二川 清/著 -- 森北出版 -- 2012.9 -- 549.8
SDI
予約かごへ
本棚へ
所蔵
所蔵は
1
件です。現在の予約件数は
0
件です。
所蔵館
場所
棚番号
請求記号
資料コード
貸出利用
状態
本館
4階自然
Map
9
/549.8/ニカ/1050711
1110507114
閲可 貸可 協可
-
ページの先頭へ
資料詳細
タイトル
はじめてのデバイス評価技術
著者
二川 清
/著
出版地
東京
出版者
森北出版
出版年
2012.9
ページ数
11,179p
大きさ
22cm
版表示
第2版
版注記
初版:工業調査会 2000年刊
一般件名
半導体
内容紹介
半導体デバイスのなかでも代表的なシリコン集積回路(IC)を取り上げ、機能・信頼性・故障の評価についてわかりやすくまとめる。具体例・応用事例も紹介。
ISBN13桁
978-4-627-77442-1
分類番号
549.8
ページの先頭へ
関連メディア
/T170P55044
ページの先頭へ