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はじめてのデバイス評価技術 利用可

二川 清／著 -- 森北出版 -- 2012.9 -- 549.8

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所蔵館 場所 棚番号 請求記号 資料コード 貸出利用 状態
本館 ４階自然 Map 9 /549.8/ﾆｶ/1050711 1110507114 閲可 貸可 協可 －

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タイトル はじめてのデバイス評価技術
著者 二川 清 ／著  
出版地 東京
出版者 森北出版
出版年 2012.9
ページ数 11,179p
大きさ 22cm
版表示 第2版
版注記 初版:工業調査会 2000年刊
一般件名 半導体
内容紹介 半導体デバイスのなかでも代表的なシリコン集積回路(IC)を取り上げ、機能・信頼性・故障の評価についてわかりやすくまとめる。具体例・応用事例も紹介。
ISBN13桁 978-4-627-77442-1 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
分類番号 549.8

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