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LSI故障解析技術 利用可

二川 清／著 -- 日科技連出版社 -- 2011.9 -- 549.7

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所蔵館 場所 棚番号 請求記号 資料コード 貸出利用 状態
本館 ４階自然 Map 9 /549.7/ﾆｶ/1026627 1110266271 閲可 貸可 協可 －

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タイトル LSI故障解析技術
著者 二川 清 ／著  
出版地 東京
出版者 日科技連出版社
出版年 2011.9
ページ数 10,194p
大きさ 21cm
版表示 新版
版注記 初版のタイトル等:LSI故障解析技術のすべて(工業調査会 2007年刊)
一般件名 集積回路
内容紹介 LSIの故障解析技術に焦点を絞り、現在どのような技術が利用され、研究開発されているかについて、微細化、マージナル不良、タイミング不良などに対応するものに重点を置いて解説する。2007年以降の技術の変化に対応。
ISBN13桁 978-4-8171-9414-5 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
分類番号 549.7

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