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LSIの信頼性 利用可

二川 清／編著 -- 日科技連出版社 -- 2010.10 -- 549.7

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所蔵館 場所 棚番号 請求記号 資料コード 貸出利用 状態
本館 ４階自然 Map 9 /549.7/ﾆｶ/1007279 1110072797 閲可 貸可 協可 －

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タイトル LSIの信頼性
叢書名 信頼性技術叢書
著者 二川 清 ／編著, 塩野 登 ／著, 横川 慎二 ／著, 福田 保裕 ／著, 三井 泰裕 ／著  
出版地 東京
出版者 日科技連出版社
出版年 2010.10
ページ数 8,183p
大きさ 21cm
一般件名 集積回路 , 信頼性(工学)
内容紹介 家電、携帯、パソコン、自動車など、生活のあらゆるところで、広く深く使われているLSIの普及を支える信頼性技術の主要な要素技術や手法に焦点をあてて解説。基礎から実際的な応用までを幅広く紹介する。
ISBN13桁 978-4-8171-9363-6 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
分類番号 549.7

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