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MOS集積回路の設計・製造と信頼性技術 利用可

大山 英典／共著 -- 森北出版 -- 2008.4 -- 549.7

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所蔵館 場所 棚番号 請求記号 資料コード 貸出利用 状態
本館 ４階自然 Map 9 /549.7/ﾓｽ/955109 1109551094 閲可 貸可 協可 －

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タイトル MOS集積回路の設計・製造と信頼性技術
著者 大山 英典 ／共著, 中林 正和 ／共著, 葉山 清輝 ／共著, 江口 啓 ／共著  
出版地 東京
出版者 森北出版
出版年 2008.4
ページ数 8,189p
大きさ 22cm
一般件名 集積回路
内容紹介 MOS集積回路を作るうえで必要不可欠な、設計、製造、信頼性の各要素技術を詳しく解説。信頼性技術では、実例を用いて故障メカニズムを説明。DFMを活用する半導体に係わる技術者から学生まで、全ての人に役立つ一冊。
ISBN13桁 978-4-627-77381-3 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
分類番号 549.7

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