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LSI故障解析技術のすべて
利用可
二川 清/著 -- 工業調査会 -- 2007.11 -- 549.7
SDI
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所蔵
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所蔵館
場所
棚番号
請求記号
資料コード
貸出利用
状態
本館
4階自然
Map
9
/549.7/ニカ/930207
1109302070
閲可 貸可 協可
-
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資料詳細
タイトル
LSI故障解析技術のすべて
副書名
開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー
著者
二川 清
/著
出版地
東京
出版者
工業調査会
出版年
2007.11
ページ数
221p
大きさ
21cm
一般件名
集積回路
内容紹介
LSIの故障解析技術そのものに焦点を絞り、現在どのような技術が利用され、研究開発されているかについて、微細化、マージナル不良、タイミング不良などに対応するものに重点を置いて解説する。
ISBN13桁
978-4-7693-1269-7
分類番号
549.7
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関連メディア
/T170P55044
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