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ソフトウェアテストHAYST法入門 利用可

吉澤 正孝／著 -- 日科技連出版社 -- 2007.7 -- 007.63

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所蔵館 場所 棚番号 請求記号 資料コード 貸出利用 状態
本館 書庫１上 Map B/007.63/ｿﾌ/922445 1109224457 閲可 貸可 協可 －

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タイトル ソフトウェアテストHAYST法入門
副書名 品質と生産性がアップする直交表の使い方
著者 吉澤 正孝 ／著, 秋山 浩一 ／著, 仙石 太郎 ／著  
出版地 東京
出版者 日科技連出版社
出版年 2007.7
ページ数 18,219p
大きさ 21cm
一般件名 ソフトウェア工学
内容紹介 テスト設計に直交表を活用する方法、直交表への因子・水準の割付け時に禁則を回避する方法を解説。さらに、HAYST法を組織的に展開し開発プロセスを変革する方法を提示した、ソフトウェアテストの常識をくつがえす一冊。
ISBN13桁 978-4-8171-9228-8 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
分類番号 007.63

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