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表面分析:SIMS 利用可

D.ブリッグス／編 -- アグネ承風社 -- 2003.7 -- 428.4

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所蔵館 場所 棚番号 請求記号 資料コード 貸出利用 状態
本館 ４階自然 Map 12 /428.4/ﾌﾘ/836428 1108364284 閲可 貸可 協可 －

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タイトル 表面分析:SIMS
副書名 二次イオン質量分析法の基礎と応用
著者 D.ブリッグス ／編, M.P.シーア ／編, 志水 隆一 ／監訳, 二瓶 好正 ／監訳, 新SIMS研究会 ／訳  
出版地 東京
出版者 アグネ承風社
出版年 2003.7
ページ数 429p
大きさ 21cm
翻訳原書名注記 原タイトル:Practical surface analysis.Volume2:Ion and neutral spectroscopy 原著第2版の抄訳
一般件名 表面(工学) , イオンビーム , 質量分析
内容紹介 二次イオン質量分析を中心に、スパッター中性粒子質量分析やイオン散乱分光法も包括した、SIMSの解説書。90年アグネ刊「表面分析」に続く第2弾。
ISBN 4-900508-10-1 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
分類番号 428.4

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