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JTAGテストの基礎と応用 利用可

坂巻 佳寿美／著 -- CQ出版 -- 1998.12 -- 549.7

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所蔵館 場所 棚番号 請求記号 資料コード 貸出利用 状態
本館 書庫２上 Map B/549.3/ｻｶ/761567 1107615675 閲可 貸可 協可 －

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タイトル JTAGテストの基礎と応用
副書名 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例
叢書名 I/F essence
著者 坂巻 佳寿美 ／著  
出版地 東京
出版者 CQ出版
出版年 1998.12
ページ数 182p
大きさ 21cm
一般件名 集積回路
内容紹介 比較的身近になったJTAG対応デバイスを実際に使用し、テスト対象ハードウェアを自作する手順やパソコンのプリンタポートを利用したTAP制御プログラムについてC言語で紹介する。
ISBN 4-7898-3682-7 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
分類番号 549.7

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