資料詳細

  • 1 件中、 1 件目

表面・界面の分析と評価 利用可

平木 昭夫／共著 -- オーム社 -- 1994.9 -- 428.8

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館 場所 棚番号 請求記号 資料コード 貸出利用 状態
本館 ４階自然 Map 9 /549.8/ﾋﾗ/660227 1106602270 閲可 貸可 協可 －

ページの先頭へ

資料詳細

タイトル 表面・界面の分析と評価
叢書名 応用物理学シリーズ
著者 平木 昭夫 ／共著, 成沢 忠 ／共著  
出版地 東京
出版者 オーム社
出版年 1994.9
ページ数 141p
大きさ 22cm
一般件名 半導体
内容紹介 半導体技術の核となる半導体-金属界面での反応の分析・評価を軸に、著者の経験をふまえつつ新たな研究開発に向けた様々な示唆に富む内容となっている。
ISBN 4-274-12976-4 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
分類番号 428.8

ページの先頭へ