宇田川 康夫/編 -- 学会出版センター -- 1993.2 -- 433.57

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館 場所 棚番号 請求記号 資料コード 貸出利用 状態
本館 4階自然 Map 13 /433.5/ウダ/619393 1106193938 閲可 貸可 協可

資料詳細

タイトル X線吸収微細構造
副書名 XAFSの測定と解析
叢書名 日本分光学会測定法シリーズ
著者 宇田川 康夫 /編  
出版地 東京
出版者 学会出版センター
出版年 1993.2
ページ数 222p
大きさ 21cm
一般件名 エックス線分光分析
内容紹介 X線吸収微細構造((E)XAFS)による研究を始めようとする人のための入門書。X線吸収微細構造とは、EXAFSの理論、EXAFSスペクトルの解析、X線吸収スペクトルの測定の4章。
ISBN 4-7622-5708-7 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
分類番号 433.57