資料詳細

  • 1 件中、 1 件目

デバイス・部品の故障解析 利用可

二川 清／[ほか]著 -- 日科技連出版社 -- 1992.9 -- 549.8

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館 場所 棚番号 請求記号 資料コード 貸出利用 状態
本館 書庫２上 Map B/549.8/ﾆｶ/607230 1106072306 閲可 貸可 協可 －

ページの先頭へ

資料詳細

タイトル デバイス・部品の故障解析
叢書名 信頼性110番シリーズ
著者 二川 清 ／[ほか]著  
出版地 東京
出版者 日科技連出版社
出版年 1992.9
ページ数 127p
大きさ 21cm
一般件名 半導体 , 集積回路 , 信頼性(工学)
内容紹介 新しくデバイス・部品の信頼性業務に携わることになった人のために、実際の業務でよく遭遇する問題について、初心者が陥りやすい罠や気付きにくい解決の秘訣を取り上げQ&Aの形で解説する「困ったときに開くノウハウ集」。
ISBN 4-8171-3027-X 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
分類番号 549.8

ページの先頭へ